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超高温集成电路测试分选机 2012-12-13

广州天童科技有限公司日前推出一款适用于高温状况下IC测试的全新集成电路测试分选装置，其特点：
　测试区超高温，温度可达250°，且连续可调。
　实现连续测试，温度稳定、抗外部扰动、精度达到±1°。
　方便速度快：自动上料，自动收料，UPH值>4000。