网站地图 | 加入收藏 | 在线留言 | 联系我们

Tel:0086-020-82322395、82568115

您的当前位置:首页>资讯中心> 最新资讯

广州天童科技有限公司研发的《新型集成电路测试分选方法及装置》,获国家发明专利证书。 2014-06-30

分类:最新资讯

广州天童科技有限公司独自研发的《新型集成电路测试分选方法及装置》,获国家发明专利证书授权,。

 

 

本地链接:http://www.ttt-cn.com/news/20.html 复制网址

阅读(5336 )|打印 |返回

上一个:广州天童科技有限公司承担的科技部创新基金项目《智能功率模块(IPM)集成电路测试分选机》研制成功,国家创新基金网站公告验收通过。

下一个:电商仓储快递包裹自动分选